霍梅爾-埃達(dá)米克hommel w10粗糙度儀
供貨范圍
霍梅爾-埃達(dá)米克W10
商品號(hào)1006 5263
W10主機(jī)
口LV17進(jìn)給單元
口粗糙度測(cè)頭T1E
口測(cè)頭保護(hù)
口用于直徑大于10 mm的小型軸類件的V型支撐塊
口USB電纜
口電源適配器90-240V
口粗糙度標(biāo)準(zhǔn)塊
口內(nèi)六角扳手
口廠方驗(yàn)收證書
口粗糙度標(biāo)準(zhǔn)塊數(shù)據(jù)紙
口操作說明書
口手提箱
| 品牌：德國霍梅爾hommel | 型號(hào)：Hommel-Etamic W10 | 產(chǎn)地類別：進(jìn)口 |
| 類別：表面粗糙度儀 | 類型：手持式 | 測(cè)量范圍：320μm (-210/+110 μmm) |
霍梅爾-艾達(dá)米克 Hommel-Etamic W10
Hommel-Etamic W10 適可用于任何位置測(cè)量的便攜式粗糙度儀，用于橫向探測(cè)、架空位置和垂直位置的移動(dòng)式粗糙度測(cè)量，借助移動(dòng)式 HOMMEL-ETAMIC W10 測(cè)量?jī)x，您可以用無線方式測(cè)量工件，清晰的測(cè)量結(jié)果始終顯示在寬大的觸摸屏上。Hommel-Etamic W10 測(cè)量?jī)x非常適合用于進(jìn)行移動(dòng)式粗糙度測(cè)量，讓您可以在生產(chǎn)過程本身中監(jiān)測(cè)工件的表面質(zhì)量。這款實(shí)用的測(cè)量系統(tǒng)具有廣泛的功能。它在橫向探測(cè)期間以及架空位置和垂直位置中提供可靠且精密的測(cè)量。集成的粗糙度標(biāo)準(zhǔn)支持快速測(cè)試測(cè)量?jī)x，確保始終獲得非常高的精密度。
Hommel-Etamic W10 可用于任何測(cè)量位置的便攜式粗糙度測(cè)量?jī)x：橫向測(cè)量，仰測(cè)，小型軸類件的移動(dòng)式測(cè)量，通過支撐腳調(diào)節(jié)高度，垂直測(cè)量。大規(guī)模的彩色觸摸屏，使用預(yù)設(shè)測(cè)量程序操作，清晰顯示帶公差的測(cè)量結(jié)果。V型槽用于可靠定位小型軸類件，帶測(cè)量位置照明的測(cè)頭保護(hù)裝置。一體化的粗糙度標(biāo)準(zhǔn)塊，無線給進(jìn)單元帶藍(lán)牙技術(shù)，保證粗糙度測(cè)量的安全與便攜。
主要功能特征：
移動(dòng)式：不依賴電源，帶無線纜式進(jìn)給設(shè)備，可在實(shí)際運(yùn)行中靈活使用
簡(jiǎn)單式：通過觸屏進(jìn)行直觀現(xiàn)代的操作
完整式：測(cè)量所有符合標(biāo)準(zhǔn)的常見粗糙度特征參數(shù)
單一式：顯示結(jié)果包含公差評(píng)估和表面截面
實(shí)用：內(nèi)置打印機(jī)可及時(shí)記錄測(cè)量結(jié)果
安全：通過內(nèi)置粗糙度標(biāo)準(zhǔn)即時(shí)檢查測(cè)量?jī)x
舒適：LV17 的內(nèi)置充電器外殼
多樣：橫向掃描、冒頭或垂直測(cè)量
技術(shù)參數(shù)：
測(cè)量范圍 | 320μm (-210/+110 μmm) |
測(cè)頭 | 滑軌式感應(yīng)測(cè)頭T1E2 μm/90 |
測(cè)量單位 | μm/μinch 之間可選 |
大測(cè)量長(zhǎng)度 | 17.5mm |
ISO/JIS標(biāo)準(zhǔn)的探測(cè)距離 | 1.5/4.8/15mm |
MOTIF法的探測(cè)距離 | 0.64 /3.2 /16 mm |
截止波長(zhǎng) | 0.08 /0.25 /0.8 /2.5 mm |
取樣長(zhǎng)度數(shù)量 | 1至5之間選擇 |
濾波器 | DIN EN ISO 11562標(biāo)準(zhǔn): 高斯濾波器 DIN EN ISO 16610-21標(biāo)準(zhǔn): 高斯濾波器 DIN EN IS0 13565-1標(biāo)準(zhǔn): 用于Rk特性參數(shù)的濾波器 DIN EN ISO 3274標(biāo)準(zhǔn): 入s濾波器 |
| 0.15/0.5/1mm/s; 返回速度3mm/s |
DIN EN ISO 4827標(biāo)準(zhǔn)的特性參數(shù) | Ra,Rz,Rmax,Rt,Rq,RSm,Rp,Rv,Rq,Rsk,Rku,Rdc,Rdq, RzIS0,Rmr,Rmr(c),C(Rmr),Pt,Pz Pa |
DIN EN I50 13565-1和-2標(biāo)準(zhǔn)的特性參數(shù) | Rk.Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,A1,A2,Rpk*.Rvk* |
篤摯儀器（上海）有限公司主營(yíng)檢測(cè)儀器設(shè)備有：
==>>德國菲希爾 Helmut FISCHER X射線鍍層測(cè)厚儀、便攜式涂鍍層測(cè)厚儀；
==>>英國泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測(cè)量?jī)x；
==>>德國馬爾mahr表面粗糙度儀、高度測(cè)量?jī)x、千分尺、卡尺；
==>>德國EPK（Elektrophysik）手持式涂覆層測(cè)厚儀；
==>>德國艾達(dá)米克霍梅爾HOMMEL 便攜式粗糙度儀；
==>>美國API XD系列激光干涉儀；
==>>美國GE無損檢測(cè)超聲波探傷儀、超聲波測(cè)厚儀；
==>>日本三豐Mitutoyo量具、粗糙度儀、測(cè)高儀、千分尺、卡尺；
==>>英國雷尼紹Renishaw三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭測(cè)針、機(jī)床測(cè)頭、位置編碼器、光柵、激光尺；
==>>德國Fraunhofer－IZFP無損檢測(cè)技術(shù)研究所 淬火層厚度無損測(cè)量系統(tǒng)；
==>>美國FLIR熱成像系統(tǒng)、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀、紅外探測(cè)器；
==>>美國奧林巴斯Olympus超聲波測(cè)厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、XRF金屬分析儀；
==>>TRIMOS測(cè)長(zhǎng)儀、測(cè)高儀、萬能測(cè)長(zhǎng)機(jī)；
==>>杭州思看科技三維掃描儀.
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德國艾達(dá)米克-霍梅爾Hommel
霍梅爾粗糙度儀
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