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產(chǎn)品名稱: |
PH20Renishaw測(cè)頭測(cè)座 |
發(fā)布時(shí)間: |
2024-09-01 |
產(chǎn)品品牌: |
RENISHAW/英國(guó)雷尼紹 |
產(chǎn)品特點(diǎn): |
PH20Renishaw測(cè)頭測(cè)座PH20是一種動(dòng)態(tài)測(cè)量測(cè)座, 測(cè)量效率提高了兩倍,同時(shí)仍保持很高的系統(tǒng)精度。 |
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PH20Renishaw測(cè)頭測(cè)座的詳細(xì)資料: |
PH20Renishaw測(cè)頭測(cè)座 PH20是一種動(dòng)態(tài)測(cè)量測(cè)座, 測(cè)量效率提高了兩倍,同時(shí)仍保持很高的系統(tǒng)精度。新型PH20測(cè)座采用了為REVO®測(cè)量系統(tǒng)(曾獲得多項(xiàng)殊榮) 而開發(fā)的技術(shù)。 它運(yùn)用*的“測(cè)座碰觸” 方法進(jìn)行快速觸發(fā)測(cè)量和快速五軸無級(jí)定位, 確保實(shí)現(xiàn)*佳工件測(cè)量。 傳統(tǒng)觸發(fā)測(cè)量方法依靠加快坐標(biāo)測(cè)量機(jī) (CMM)的三軸運(yùn)動(dòng)速度進(jìn)行快速測(cè)量, PH20與之不同, 它采用測(cè)座運(yùn)動(dòng)來大限度降低由坐標(biāo)測(cè)量機(jī)高速運(yùn)動(dòng)所引起的動(dòng)態(tài)誤差。 其簡(jiǎn)潔小巧的設(shè)計(jì)既適用于新購(gòu)坐標(biāo)測(cè)量機(jī),也適用于大多數(shù)現(xiàn)有的用于觸發(fā)測(cè)量的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)改造。PH20集成了行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的TP20觸發(fā)式測(cè)頭, 可直接配用一系列成熟的測(cè)頭模塊和各種測(cè)力、 方向感應(yīng)選項(xiàng)及加長(zhǎng)桿, 以滿足應(yīng)用需求。磁力式模塊可提供碰撞保護(hù), 并可以利用MCR20NI交換架實(shí)現(xiàn)自動(dòng)交換。 現(xiàn)有的TP20系統(tǒng)用戶可以升級(jí)到PH20, 并可繼續(xù)使用已有模塊*。PH20測(cè)座通過采用*的快速“推論校正” 技術(shù)而大大減少了校正時(shí)間。 該技術(shù)可以一次確定測(cè)座方向和測(cè)頭位置, 進(jìn)而在任意測(cè)座角度完成后續(xù)測(cè)量。 系統(tǒng)的設(shè)計(jì)無需氣源, 既可直接安裝, 也可以用多種安裝轉(zhuǎn)接頭通過刀柄安裝到坐標(biāo)測(cè)量機(jī)軸套上。 上海篤摯儀器專業(yè)代理商,貨全價(jià)低,售后有保障! 主要特點(diǎn) 設(shè)計(jì)緊湊 – 適合各種使用刀柄或軸套安裝的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。 雷尼紹坐標(biāo)測(cè)量機(jī)控制器 – 與I++DME通信協(xié)議兼容;適用多種測(cè)量軟件。 可重復(fù)定位測(cè)座兼容性 – 在多數(shù)情況下, 無需修改現(xiàn)有程序。 內(nèi)置TP20測(cè)頭 – 可實(shí)現(xiàn)現(xiàn)有設(shè)備的重復(fù)使用。
創(chuàng)新技術(shù) 快速測(cè)座碰觸 – 坐標(biāo)測(cè)量機(jī)靜止不動(dòng), 測(cè)座移動(dòng)并采集接觸點(diǎn)。 快速五軸移動(dòng) – 測(cè)座和坐標(biāo)測(cè)量機(jī)在兩次測(cè)量之間同步運(yùn)動(dòng)。 推論校正 – 可以一次確定測(cè)座方向和測(cè)頭位置, 進(jìn)而在任意測(cè)座角度完成后續(xù)測(cè)量。 其他信息 • PH20可直接裝到坐標(biāo)測(cè)量機(jī)軸套上。 還提供各種刀柄適配器。 • PH20系統(tǒng)采用雷尼紹通用坐標(biāo)測(cè)量機(jī)控制器系統(tǒng), 可提供專門用于五軸運(yùn)動(dòng)和測(cè)座碰觸測(cè)量的功能。 • 通過雷尼紹UCCserver™軟件應(yīng)用程序?qū)崿F(xiàn)的I++DME通信協(xié)議。
篤摯儀器(上海)有限公司主營(yíng)檢測(cè)儀器設(shè)備有: ==>>德國(guó)菲希爾 Helmut FISCHER X射線鍍層測(cè)厚儀、便攜式涂鍍層測(cè)厚儀; ==>>英國(guó)泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測(cè)量?jī)x; ==>>德國(guó)馬爾mahr表面粗糙度儀、高度測(cè)量?jī)x、千分尺、卡尺; ==>>德國(guó)EPK(Elektrophysik)手持式涂覆層測(cè)厚儀; ==>>德國(guó)艾達(dá)米克霍梅爾HOMMEL 便攜式粗糙度儀; ==>>美國(guó)API XD系列激光干涉儀; ==>>美國(guó)GE無損檢測(cè)超聲波探傷儀、超聲波測(cè)厚儀; ==>>日本三豐Mitutoyo量具、粗糙度儀、測(cè)高儀、千分尺、卡尺; ==>>英國(guó)雷尼紹Renishaw三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭測(cè)針、機(jī)床測(cè)頭、位置編碼器、光柵、激光尺; ==>>德國(guó)Fraunhofer-IZFP無損檢測(cè)技術(shù)研究所 淬火層厚度無損測(cè)量系統(tǒng); ==>>美國(guó)FLIR熱成像系統(tǒng)、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀、紅外探測(cè)器; ==>>美國(guó)奧林巴斯Olympus超聲波測(cè)厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、XRF金屬分析儀; ==>>TRIMOS測(cè)長(zhǎng)儀、測(cè)高儀、萬能測(cè)長(zhǎng)機(jī); ==>>杭州思看科技三維掃描儀;
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